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Volume 8 Issue 2

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Article Navigation > Nuclear Physics Review > 1991 > 8(2): 41-44

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

Citation:

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

田宇宏

中国科学院近代物理研究所

Received Date: 1900-01-01
Rev Recd Date: 1900-01-01
Publish Date: 1991-06-20

Abstract

全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。
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通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com

1.
沈阳化工大学材料科学与工程学院沈阳 110142

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全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

田宇宏

中国科学院近代物理研究所

Received Date: 1900-01-01
Rev Recd Date: 1900-01-01
Publish Date: 1991-06-20

Abstract: 全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

Citation:

田宇宏. 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J]. Nuclear Physics Review, 1991, 8(2): 41-44. doi: 10.11804/NuclPhysRev.08.02.041

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